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APPLE TREE、大型部品の測定が可能な光学トラッキング式3Dスキャンシステム「TRACKSCAN-Sharp」発売

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新製品 3Dスキャナ

APPLE TREEが、大型部品の測定が可能なSCANTECH製光学トラッキング式3Dスキャンシステム「TRACKSCAN-Sharp」を発売した。

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TRACKSCAN-Sharp は、ハンディー型3Dスキャナーと光学式トラッカーを組み合わせた製品。エッジ検出技術や2500万画素の産業用カメラなどを搭載し、トラッカーの移動を抑えながら大型部品や複数の部品を一度に測定できる。

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搭載するカメラは2500万画素で、ダイナミックアダプティブLEDアルゴリズムや長距離被写界深度、強力な干渉防止能力により、最大6メートルのトラッキング距離で高精度の測定が可能。最大空間測定範囲は49平方メートルで最大空間測定精度0.049mm(10.4平方メートル)だ。

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マーカーレスで測定でき、有線または無線でデータ伝送する。有線モードでは工業用測定の水準で長距離伝送が可能で、無線モードはさまざまな場所での作業に適している。

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オプションのエッジ検出モジュール「i-Hole」を使用すればネジ穴などのエッジを正確に検出できるようになる。同じくオプションのポータブル式のプローブ「CMM T-Probe」を使用することで、深い穴など手の届かない場所の測定ができる。

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